Профессор Якимов А.В., доцент Клюев А.В., аспирант Кочергин В.С. и студент Штрауб Н.И., в соавторстве с другими учеными ННГУ, а также профессором университета Палермо (Италия) Б. Спаньоло, запатентовали изобретение “Способ оценки микроструктуры флуктуаций электронного тока в филаменте мемристора”.
Мемристоры рассматриваются в качестве базовых элементов для создания нового поколения энергонезависимой памяти. Предложенный способ расширяет арсенал измерительных методов для диагностики мемристоров.
См. также
http://www.unn.ru/site/about/news/uchjonye-nngu-zapatentovali-novyj-sposob-analiza-raboty-memristora